Վիքիպեդիա

Պատկեր:AFMsetup.jpg

AFMsetup.jpg ‎(721 × 569 փիքսել, նիշքի չափը՝ 86 ԿԲ, MIME-տեսակը՝ image/jpeg)

Այս նիշքը տեղադրված է Վիքիպահեստում է և այն կարող է օգտագործվել այլ նախագծերի կողմից։ Վիքիպահեստում նիշքի մասին տեղեկությունների հիմնական մասը ներկայացված է ստորև։

Ամփոփում

Նկարագրում
English: Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
Deutsch: Typischer Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (RKM): Die Auslenkung eines Abtastarms (Englisch: Cantilever) mit einer feinen Tastspitze wird während des Abtastens der Oberfläche anhand der Auslenkung eines Laserstrahls bestimmt, der von der Oberseite des Abtastarms reflektiert wird.
Թվական 2013-10-13--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)
Աղբյուր

http://kristian.molhave.dk

Հեղինակ yashvant
Իրավունքներ
(Նիշքի վերաօգտագործումը)		 CC-BY-2.5, please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!
Please translate the English parts of this template into Armenian.
Գոյություն ունի այս պատկերի վեկտորային տարբերակը ("SVG"): Եթե այն իր ռաստրային տարբերակից ավելի որակյալ է, ապա գերադասելի է նրա օգտագործումը:
File:AFMsetup.jpg → File:AFM schematic (EN).svg
Վեկտորային գրաֆիկայի մասին ավելին իմանալու համար կարող եք կարդալ պատկերների փոխադրման մասին SVG ֆորմատի:
Նաև մատչելի են տեղեկություններ SVG ֆորմատի աջակցման մասին ՄեդիաՎիքիյում:
Այլ լեզուներով
Alemannisch ∙ Bahasa Indonesia ∙ Bahasa Melayu ∙ British English ∙ català ∙ čeština ∙ dansk ∙ Deutsch ∙ eesti ∙ English ∙ español ∙ Esperanto ∙ euskara ∙ français ∙ Frysk ∙ galego ∙ hrvatski ∙ Ido ∙ italiano ∙ lietuvių ∙ magyar ∙ Nederlands ∙ norsk bokmål ∙ norsk nynorsk ∙ occitan ∙ Plattdüütsch ∙ polski ∙ português ∙ português do Brasil ∙ română ∙ Scots ∙ sicilianu ∙ slovenčina ∙ slovenščina ∙ suomi ∙ svenska ∙ Tiếng Việt ∙ Türkçe ∙ vèneto ∙ Ελληνικά ∙ беларуская (тарашкевіца) ∙ български ∙ македонски ∙ нохчийн ∙ русский ∙ српски / srpski ∙ татарча/tatarça ∙ українська ∙ ქართული ∙ հայերեն ∙ বাংলা ∙ தமிழ் ∙ മലയാളം ∙ ไทย ∙ 한국어 ∙ 日本語 ∙ 简体中文 ∙ 繁體中文 ∙ עברית ∙ العربية ∙ فارسی ∙ +/−
Նոր պատկեր

Արտոնագրում

w:en:Creative Commons
հղում
This file is licensed under the Creative Commons Attribution 2.5 Generic license.
Դուք ազատ եք՝
  • կիսվել ստեղծագործությամբ – պատճենել, տարածել և փոխանցել այս աշխատանքը։
  • վերափոխել – ադապտացնել աշխատանքը
Պահպանելով հետևյալ պայմանները'
  • հղում – Դուք պետք է նշեք հեղինակի (իրավատիրոջ) հղումը:

Captions

Add a one-line explanation of what this file represents

Items portrayed in this file

պատկերված

checksum անգլերեն

e554ced62e546be1eaba9097f6f6078f0da81eca

որոշման եղանակ: SHA-1 անգլերեն

data size անգլերեն

88 071 Բայթ

բարձրություն

569 փիքսել

լայնություն

721 փիքսել

Նիշքի պատմություն

Մատնահարեք օրվան/ժամին՝ նիշքի այդ պահին տեսքը դիտելու համար։

Օր/ԺամՄանրապատկերՕբյեկտի չափըՄասնակիցՄեկնաբանություն
ընթացիկ14:10, 21 Նոյեմբերի 200614:10, 21 Նոյեմբերի 2006 տարբերակի մանրապատկերը721 × 569 (86 ԿԲ)KristianMolhave*Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made

Նիշքի համընդհանուր օգտագործում

Հետևյալ այլ վիքիները օգտագործում են այս նիշքը՝

Տեսնել այս նիշքի ավելի համընդհանուր օգտագործումը:

Ստացված է «https://hy.wikipedia.org/wiki/Պատկեր:AFMsetup.jpg» էջից