«Ատոմական ուժային մանրադիտակ»–ի խմբագրումների տարբերություն
Content deleted Content added
չ կատ |
+Տեղեկաքարտ մանրադիտակ |
||
Տող 1.
{{Տեղեկաքարտ մանրադիտակ
|անուն = Ատոմական ուժային մանրադիտակ
|հապավում = ԱՈՒՄ
|լատին անուն = Atomic force microscope
|պատկեր = Atomic force microscope block diagram.svg
|կալանք = Ատոմական ուժային մանրադիտակի սխեման
|խոշորացում =
|լուծաչափ =
|նմուշի տեսակ = [[պինդ մարմին]]
|նմուշի չափ =
|նմուշի պատրաստում =
|գյուտարար = Բինիգ, [[Կալվին Քուեյթ]], [[Քրիստոֆ Գերբեր]]
|տարի = [[1986]]
|արտադրողներ = Digital Instruments/Veeco, Asylum Research
}}
'''Ատոմական Ուժային Մանրադիտակը''' (ԱՈՒՄ) շատ բարձր լուծելիության մանրադիտակ է, որը ի վիճակի է տարալուծել 1 [[նանոմետր]]ից փոքր օբյեկտներ, մոտ 1000 անգամ ավելի լավ քան սովորական լուսային մանրադիտակները: ԱՈՒՄ-ը տրամաբանական զարգացումն էր [[Սքանավորող Թունելային Մանրադիտակ]]ի, որը ստեղծվել էր [[Գերդ Բիննիգ]]ի և [[Հայնրիխ Ռոհրեր]]ի կողմից 1980-ականների սկզբին և որի համար նրանք 1986 թվականին արժանացան [[Նոբելյան մրցանակ]]ի: Ներկայումս ԱՈՒՄ-ը հանդիսանում է [[նանոտեխնոլոգիա]]յում ամենաառաջնային ու կիրառելի գործիքներից մեկը: Ի տարբերություն [[օպտիկական մանրադիտակ]]ների ինֆորմացիան հավաքվում է ոչ թե «տեսնելու» այլ «զգալու» սկզբունքի վրա: Նանոմետրիկ չափսերի զննող տարրը (զննիչ) փոխազդում է մակերևույթի հետ շոշափելով այն և այդպիսով գրանցում է մակերևույթի [[տոպոգրաֆիա]]ն: Զննիչի ատոմական ճշգրտությամբ շարժումը կարգավորվում է [[պիեզոէլեկտիկ]] տարրերի կողմից:
| |||